研究·合金性能 | 浏览量 : 0 下载量: 1 CSCD: 0
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    • 晶界工程对微合金化纯铜导电性和热稳定性的影响

    • Effects of Grain Boundary Engineering on Conductivity and Thermal Stability of Microalloyed Pure Copper

    • 2025年45卷第3期 页码:424-427   

      收稿日期:2024-03-25

      修回日期:2024-05-08

      录用日期:2024-05-28

      纸质出版日期:2025-03-20

    • DOI: 10.15980/j.tzzz.20240121     

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  • 梁十军,刘海涛,张彦敏,等. 晶界工程对微合金化纯铜导电性和热稳定性的影响[J]. 特种铸造及有色合金,2025,45(3):424-428. DOI: 10.15980/j.tzzz.20240121.
    LIANG S J,LIU H T,ZHANG Y M,et al. Effects of grain boundary engineering on conductivity and thermal stability of microalloyed pure copper[J]. Special Casting & Nonferrous Alloys,2025,45(3):424-428. DOI: 10.15980/j.tzzz.20240121.
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